ПЕРЕВІРКА ТА УПАКОВКА ЗВАРЮВАЛЬНОГО ДІОДА СЕРІЇ ZW
Методи випробувань і правила перевірки
1. Перевірка партії за партією (інспекція групи A)
Кожна партія продукції повинна бути перевірена відповідно до таблиці 1, і всі елементи в таблиці 1 є неруйнівними.
Таблиця 1 Перевірка кожної партії
| Група | ОглядПункт | Метод перевірки | Критерій | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Зовнішній вигляд | Візуальний огляд (за нормальних умов освітлення та зору) | Логотип чіткий, поверхневе покриття та покриття не мають відшаровування та пошкоджень. | 1.5 |
| A2a | Електричні характеристики | 4.1 (25 ℃), 4.4.3 (25 ℃) в JB/T 7624—1994 | Змінена полярність:VFM>10USL IRRM>100 USL | 0,65 |
| A2b | VFM | 4,1 (25 ℃) в JB/T 7624-1994 | Скарга на вимоги | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25 ℃, 170 ℃) у JB/T 7624—1994 | Скарга на вимоги | ||
| Примітка. USL – це максимальне граничне значення. | ||||
2. Періодична перевірка (перевірка групи B і групи C)
Відповідно до таблиці 2, готові продукти в нормальному виробництві повинні перевірятися щонайменше одну партію групи B і групи C щороку, а елементи перевірки, позначені (D), є руйнівними тестами.Якщо початкова інспекція є некваліфікованою, додатковий відбір проб можна перевірити повторно відповідно до таблиці A.2 Додатку, але лише один раз.
Таблиця 2 Періодична перевірка (група B)
| Група | ОглядПункт | Метод перевірки | Критерій | План вибірки | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Температурний цикл (D) з подальшим запечатуванням |
| Вимірювання після тесту:VFM≤1,1USL IRRM≤2USL не витік | 6 | 1 |
| CRRL | Коротко опишіть відповідні атрибути кожної групи, VFM і яRRMзначення до і після тесту, а також висновок тесту. | ||||
3. Ідентифікаційна перевірка (група D перевірка)
Коли виріб завершено та передано на виробничу оцінку, на додаток до перевірок груп A, B, C також слід провести випробування групи D відповідно до таблиці 3, а елементи перевірки, позначені (D), є руйнівними випробуваннями.Звичайне виробництво готової продукції повинно перевірятися щонайменше на одній партії групи D кожні три роки.
Якщо первинна перевірка не вдається, додатковий відбір проб можна перевірити повторно відповідно до таблиці A.2 Додатку, але лише один раз
Таблиця 3 Тест ідентифікації
| No | Група | ОглядПункт | Метод перевірки | Критерій | План вибірки | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Тест на навантаження на тепловий цикл | Час циклу: 5000 | Вимірювання після випробування: VFM≤1,1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Удар або вібрація | 100g: утримуйте 6 мс, напівсинусоїда, два напрямки 3 взаємно перпендикулярних осей, 3 рази в кожному напрямку, всього 18 разів.20g: 100~2000 Гц, 2 години в кожному напрямку, всього 6 годин. | Вимірювання після тесту: VFM≤1,1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Коротко наведіть відповідні атрибутивні дані кожної групи, VFM , IRRMі яDRMзначення до і після тесту, а також висновок тесту. | |||||
Маркування та упаковка
1. Позначте
1.1 Позначка на продукті включає
1.1.1 Номер продукту
1.1.2 Ідентифікаційний знак терміналу
1.1.3 Назва компанії або товарний знак
1.1.4 Ідентифікаційний код контрольної партії
1.2 Логотип на картонній упаковці або інструкція, що додається
1.2.1 Модель виробу та стандартний номер
1.2.2 Назва та логотип компанії
1.2.3 Вологозахисні та дощозахисні знаки
1.3 Пакет
Вимоги до упаковки продукту мають відповідати національному законодавству або вимогам замовника
1.4 Документ на продукт
Модель виробу, стандартний номер впровадження, спеціальні вимоги до електричних характеристик, зовнішній вигляд тощо повинні бути вказані в документі.
Theзварювальний діодвиробництва Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor широко використовується в зварювальних машинах опорного зварювання, середніх і високих частотах до 2000 Гц або вище.Зварювальний діод від Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor є одним із найнадійніших пристроїв Китаю завдяки наднизькій прямій піковій напрузі, наднизькому термічному опору, найсучаснішій технології виробництва, чудовій здатності до заміни та стабільній продуктивності для користувачів у всьому світі. напівпровідникових виробів.